蕪湖、銅陵鋁材鍍層厚度測(cè)量分析實(shí)驗(yàn)室

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項(xiàng)目名稱鍍層厚度測(cè)量服務(wù)內(nèi)容鍍層厚度測(cè)量解決方案樣品分析評(píng)估、方法開(kāi)發(fā)、儀器測(cè)試儀器設(shè)備綜合儀器分析周期3——-7個(gè)工作日服務(wù)價(jià)格電話詳談

鍍層厚度測(cè)量

      電鍍層的厚度及其均勻性是鍍層質(zhì)量的重要標(biāo)志，它在很大程度上影響產(chǎn)品的可靠性和使用壽命。電鍍層的厚度測(cè)量方法分破壞性測(cè)量和非破壞性測(cè)量?jī)纱箢悺儆谄茐男詼y(cè)量的方法有計(jì)時(shí)液流法，點(diǎn)滴測(cè)厚法，庫(kù)侖法，金相法等，屬于非破壞性的測(cè)量方法有磁性法，渦流法，β射線反向散射法，X-ray法，掃描電鏡法等。

1.庫(kù)侖法

      庫(kù)侖法測(cè)厚又稱電量法或陽(yáng)極溶解法。它是用適當(dāng)?shù)碾娊庖宏?yáng)極溶解精確限定面積的覆蓋層，電解池電壓的急劇變化表明覆蓋層實(shí)質(zhì)上的完全溶解，通過(guò)所消耗的電量計(jì)算出覆蓋層的厚度。

本方法適合測(cè)量單層和多層金屬覆蓋層厚度陽(yáng)極溶解庫(kù)侖法，包括測(cè)量多層體系，如Cu/Ni/Cr以及合金覆蓋層和合金化擴(kuò)散層的厚度。不僅可以測(cè)量平面試樣的覆蓋層厚度，還可以測(cè)量圓柱形和線材的覆蓋層厚度，尤其適合測(cè)量多層鎳鍍層的金屬及其電位差。測(cè)量鍍層的種類為Au、Ag、Zn、Cu、Ni、dNi、Cr。

測(cè)試設(shè)備：電解測(cè)厚儀

參考標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 4955， ISO 2177， ASTM B504

2.金相法

      金相法是通過(guò)用金相顯微鏡檢查被測(cè)零件的斷面來(lái)測(cè)量金屬鍍層及氧化物覆蓋層的厚度，具有精度高、重現(xiàn)性好等特點(diǎn)。一般用于對(duì)鍍層厚度有精確要求的產(chǎn)品測(cè)厚或校驗(yàn)和仲裁其他測(cè)厚方法。

測(cè)試設(shè)備：金相顯微鏡

參考標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 6462， ISO 1463， ASTM B487

3.X-ray法

      X射線光譜方法測(cè)定覆蓋層厚度是基于一束強(qiáng)烈而狹窄的多色X射線與基體和覆蓋層的相互作用。此相互作用產(chǎn)生離散波長(zhǎng)和能量的二次輻射，這些二次輻射具有構(gòu)成覆蓋層和基體元素特征。覆蓋層單位面積質(zhì)量（若密度已知，則為覆蓋層線性厚度）和二次輻射強(qiáng)度之間存在一定的關(guān)系。該關(guān)系首先由已知單位面積質(zhì)量的覆蓋層校正標(biāo)準(zhǔn)塊校正確定。若覆蓋層材料的密度已知，同時(shí)又給出實(shí)際的密度，則這樣的標(biāo)準(zhǔn)塊就能給出覆蓋層線性厚度。

測(cè)試設(shè)備：X射線熒光測(cè)厚儀

參考標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 16921， ISO 3497， ASTM B568

4.掃描電鏡法

        掃描電鏡法是通過(guò)從待測(cè)試樣上指定部位垂直于覆蓋層切割一塊試樣，經(jīng)過(guò)鑲嵌、研磨、拋光和浸蝕制成橫截面金相試樣，利用掃描電子顯微鏡進(jìn)行鍍層厚度測(cè)量。

測(cè)試設(shè)備：掃描電子顯微鏡

參考標(biāo)準(zhǔn)：JB/T 7503， ISO 9220， ASTM B748

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