EL缺陷測試儀 組件測試儀 太陽能電池組件測試?                       
(SMT-A / SMT-B / SMT-F)
產(chǎn)品特點：
?????該設(shè)備專門用于太陽能單晶硅、多晶硅、非晶硅電池組件的電性能測試。
?????通過模擬太陽光譜光源，對電池組件的相關(guān)電參數(shù)進行測量。
??????獨有的校正裝置，輸入補償參數(shù)，進行自動/手動溫度補償和光強度補償，具備非接觸式自動測溫與溫度修正功能。
???????基于Windows的操作界面，測試軟件人性化設(shè)計，記錄并顯示測試曲線（I-V曲線、P曲線）和測試參數(shù)（Voc、Isc、Pmax、Im、Vm、FF、EFF、Temp），測試結(jié)果語音提示，序列號自動生成，保存到指定文件夾。
?技術(shù)參數(shù)：?
?
型號規(guī)格 SMT-A SMT-B SMT-F
光譜范圍 符合IEC60904-9要求（A級）
輻照強度 100mW/cm2(調(diào)節(jié)范圍70~120mW/cm2)
輻照不均勻度 ≤±2% ≤±3% ≤±2%
輻照不穩(wěn)定度 ≤±2% ≤±3% ≤±2%
測試結(jié)果一致性 ≤±0.5% ≤±1% ≤±0.5%
電性能測試誤差 ≤±1% ≤±2% ≤±1%
單次閃光時間 10ms 10ms 10ms
有效測試面積 1200mm×2000mm
有效測試范圍 10W~300W
測量電壓 1V~10V(分辨率1mV)
測量電流 100mA~20A(分辨率1mA)
測試參數(shù) Isc 、Voc 、Pmax 、Vm 、Im 、FF、 EFF 、Temp
數(shù)據(jù)采集 含8000個數(shù)據(jù)采集點
應(yīng)用領(lǐng)域：
專門用于太陽能單晶硅、多晶硅、非晶硅電池組件的電性能測試。