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上海檢測(cè)認(rèn)證有限公司金屬材料試驗(yàn)室部門,報(bào)告專業(yè)權(quán)威，國(guó)際認(rèn)可
俄歇效應(yīng):可以檢測(cè)一些異物或者雜質(zhì)等成分分析，一般是只無(wú)機(jī)化學(xué)成分分析檢測(cè)，樣品只需要有0.5微米厚就可以了，很小的一點(diǎn)就可以了！如果異物或者雜質(zhì)是有機(jī)化合物的話，需要用顯微紅外來(lái)檢測(cè)。下面是俄歇也就是AES的測(cè)試方法！
俄歇效應(yīng)是原子發(fā)射的一個(gè)電子導(dǎo)致另一個(gè)或多個(gè)電子（俄歇電子）被發(fā)射出來(lái)而非輻射X射線（不能用光電效應(yīng)解釋），使原子、分子成為高階離子的物理現(xiàn)象，是伴隨一個(gè)電子能量降低的同時(shí)，另一個(gè)（或多個(gè)）電子能量增高的躍遷過程。以法國(guó)人Pierre Victor Auger的名字命名。   當(dāng)X射線或γ射線輻射到物體上時(shí)，由于光子能量很高，能穿入物體，使原子內(nèi)殼層上的束縛電子發(fā)射出來(lái)。當(dāng)一個(gè)處于內(nèi)層電子被移除后，在內(nèi)殼層上出現(xiàn)空位，而原子外殼層上高能級(jí)的電子可能躍遷到這空位上，同時(shí)釋放能量。一定的內(nèi)原子殼空位可以引起一個(gè)或多個(gè)俄歇電子躍遷。躍遷時(shí)釋放的能量將以輻射的形式向外發(fā)射。通常能量以發(fā)射光子的形式釋放，但也可以通過發(fā)射原子中的一個(gè)電子來(lái)釋放，被發(fā)射的電子叫做俄歇電子。被發(fā)射時(shí)，俄歇電子的動(dòng)能等于第一次電子躍遷的能量與俄歇電子的離子能之間的能差。這些能級(jí)的大小取決于原子類型和原子所處的化學(xué)環(huán)境。 
  俄歇電子譜，是用X射線或高能電子束來(lái)產(chǎn)生俄歇電子，測(cè)量其強(qiáng)度和能量的關(guān)系而得到的譜線。其結(jié)果可以用來(lái)識(shí)別原子及其原子周圍的環(huán)境。   俄歇復(fù)合是半導(dǎo)體中一個(gè)類似的俄歇現(xiàn)象：一個(gè)電子和空穴（電子空穴對(duì)）可以復(fù)合并通過在能帶內(nèi)發(fā)射電子來(lái)釋放能量，從而增加能帶的能量。其逆效應(yīng)稱作碰撞電離。